SIR-450高低溫絕緣電阻測量系統(tǒng)

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SIR-450高低溫絕緣電阻測量系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，用于預(yù)測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個關(guān)鍵測量手段。

產(chǎn)品參數(shù)

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

數(shù)據(jù)傳輸：RS-232

多種加溫方式

勻速度加熱試驗；

階梯式加熱試驗；

熱循環(huán)試驗（僅供反射爐）；

降溫試驗；

加速度升溫（僅供反射爐）；

產(chǎn)品優(yōu)勢

除去電網(wǎng)諧波對采集精度的影響；

除去不規(guī)則輸入的自動平均值功能；

采用測量前等待的方式，讓材料受熱更均勻。